Dodano produkt do koszyka

Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna w objętości i na powierzchni półprzewodników A2B6

Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna w objętości i na powierzchni półprzewodników A2B6

Jacek Zakrzewski

ocena:
głosów: - Napisz recenzję
Fototermika jest dziedziną nauki, która bada zjawiska powstające po absorpcji energii promieniowania elektromagnetycznego i przekazaniu materiałowi na sposób ciepła. Badaniami fototermicznymi można objąć materiały, które trudno zbadać konwencjonalnymi metodami – substancje bardzo dobrze rozpraszające światło, optycznie nieprzezroczyste lub charakteryzujące się bardzo małą absorpcją.

Praca przedstawia rezultaty badań wybranych półprzewodników A2B6 za pomocą piezoelektrycznej spektroskopii fototermicznej. Przeprowadzono systematyczne badania wpływu przygotowania próbek na przebieg amplitudy i fazy widma fototermicznego. Powierzchnie próbek poddano obróbce mechanicznej (szlifowanie, polerowanie), chemicznej (trawienie) oraz termicznej. Przeanalizowano podstawowe zagadnienia w spektroskopii fototermicznej – rozkład pola temperatury w próbce absorbującej promieniowanie elektromagnetyczne. Przedstawiono symulacje widm amplitudy i fazy dla rożnych wartości parametrów termicznych i optycznych, typowych dla materiałów półprzewodnikowych.

Cena: 26.70 zł 23.00

ebook

Dostawa
  • Wysyłka na e-mail 0.00 zł
Opis produktu
Tytuł
Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna w objętości i na powierzchni półprzewodników A2B6
Autor
Jacek Zakrzewski
Język
polski
Wydawnictwo
Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika
ISBN
978-83-231-2972-1
Rok wydania
2013 Toruń
Liczba stron
138
Format
pdf
Spis treści
Wykaz oznaczeń / 7

1. Wstęp / 9
2. Równanie dyfuzji termicznej (przewodzenia ciepła) / 14
2.1. Odbicie i załamanie fali termicznej / 18
3. Rozkład temperatury w próbce absorbującej promieniowanie elektromagnetyczne / 20
3.1. Model Rosencwaiga i Gersho / 20
3.2. Model interferencji fal termicznych / 25
3.2.1. Rozkład temperatury wzdłuż grubości próbki / 28
3.3. Model Jacksona i Amera (J-A) / 33
3.4. Model Blonskiego / 36
3.5. Rozkład temperatury w dwóch warstwach / 37
4. Generacja sygnału piezoelektrycznego – odkształcenie próbki i detektora / 44
4.1. Wzajemne położenie układu próbka–detektor–promieniowanie wzbudzające (model J–A) / 45
5. Absorpcja w półprzewodnikach / 49
5.1. Przejścia proste dozwolone / 49
5.2. Przejścia pomiędzy ogonami pasm / 51
6. Piezoelektryczne widma fototermiczne / 53
6.1. Przebieg amplitudy i fazy widm fototermicznych / 54
6.2. Zmiana parametrów symulacji / 56
6.2.1. Wpływ podłoża / 56
6.2.2. Grubość próbki / 58
6.2.3. Poszerzenie ogona Urbacha (parametr ?) / 58
6.2.4. Współczynnik kształtu / 60
6.3. Rozszerzenia modelu, symulacje dla materiałów nieidealnych / 61
6.3.1. Wpływ defektów obecnych w objętości próbki / 61
6.3.2. Wpływ defektów obecnych na powierzchni próbki / 63
7. Eksperyment / 68
7.1. Układ pomiarowy / 68
7.1.1. Komórka fototermiczna / 69
7.2. Przygotowanie próbek / 70
7.3. Selenek cynku / 71
7.4. Kryształy mieszane / 85
7.5. Zn1–x–yBexMnySe / 87
7.6. Zn1–x–yBexMgxSe / 97
7.7. CdS / 103
7.8. CdSe / 106
7.9. Inne efekty związane z powierzchnią / 110
8. Podsumowanie / 111

Aneks 1. Powierzchnia idealna a rzeczywista / 114
Aneks 2. Zdefektowana warstwa przypowierzchniowa / 118
Aneks 3. Piezoelektryczna spektroskopia fototermiczna półprzewodników – przegląd literatury / 121
Bibliografia / 130
Recenzje

Ten produkt nie ma jeszcze opinii

Twoja opinia

Ocena:
  • Wszystkie pola są wymagane
Zapytaj o produkt

Zobacz także

Kontakt

510906629 pon.-pt. 9-16
biuro@ebook.pl

X Zamknij

Strona korzysta z plików cookies w celu realizacji usług zgodnie z Polityką prywatności.
Możesz określić warunki przechowywania lub dostępu mechanizmu cookie w Twojej przeglądarce.